一、 漏洞 CVE-2025-27047 基础信息
漏洞信息
                                        # Display中的已释放对象再利用漏洞

## 漏洞概述
处理TESTPATTERNCONFIG逃逸路径时发生内存损坏。

## 影响版本
未提供具体版本信息。

## 漏洞细节
当系统在处理TESTPATTERNCONFIG逃逸路径时，可能发生内存损坏。这通常意味着在处理特定数据或配置时，内存管理出现了问题，可能导致数据损坏、程序崩溃或潜在的代码执行漏洞。

## 漏洞影响
内存损坏可能导致系统不稳定、数据丢失或被攻击者利用以执行任意代码，从而控制受影响的系统。
提示
尽管我们采用了先进的大模型技术，但其输出仍可能包含不准确或过时的信息。
神龙会尽力确保数据准确，但也请结合实际情况进行甄别与判断。
神龙祝您一切顺利！
漏洞标题
Use After Free in Display
来源：美国国家漏洞数据库 NVD
漏洞描述信息
Memory corruption while processing the TESTPATTERNCONFIG escape path.
来源：美国国家漏洞数据库 NVD
CVSS信息
CVSS:3.1/AV:L/AC:L/PR:L/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H
来源：美国国家漏洞数据库 NVD
漏洞类别
释放后使用
来源：美国国家漏洞数据库 NVD
漏洞标题
Qualcomm Chipsets 资源管理错误漏洞
来源：中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
漏洞描述信息
Qualcomm Chipsets是美国高通（Qualcomm）公司的一系列芯片组。 Qualcomm Chipsets 存在资源管理错误漏洞，该漏洞源于处理TESTPATTERNCONFIG转义路径时发生内存损坏。
来源：中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
CVSS信息
N/A
来源：中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
漏洞类别
资源管理错误
来源：中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
二、漏洞 CVE-2025-27047 的公开POC
# POC 描述 源链接 神龙链接
三、漏洞 CVE-2025-27047 的情报信息