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CWE-1319 类漏洞列表 3

CWE-1319 类弱点 3 条 CVE 漏洞汇总，含 AI 中文分析。

CWE-1319 指设备易受电磁故障注入攻击，导致内部信息泄露或安全机制被绕过。攻击者通过在集成电路附近产生局部瞬态磁场，动态修改内部及外部信号，从而干扰设备正常运行。开发者应避免此漏洞，需采用物理屏蔽、电磁滤波及故障检测等硬件级防护机制，增强芯片对电磁干扰的抵抗力，确保系统在异常电磁环境下仍能维持完整性与安全性。

MITRE CWE 官方描述
CWE：CWE-1319 对电磁故障注入（Electromagnetic Fault Injection, EM-FI）的防护不当 英文：该设备易受电磁故障注入（Electromagnetic Fault Injection, EM-FI）攻击的影响，导致设备内部信息泄露或安全机制被绕过。 电磁故障注入（Electromagnetic Fault Injection, EM-FI）可能允许攻击者在本地动态修改集成电路的信号（包括内部和外部信号）。电磁故障注入（EM-FI）攻击通过在设备附近产生局部瞬态磁场，在设备导线中感应电流。典型的电磁故障注入（EMFI）设置由一个脉冲注入电路组成，该电路在电磁干扰（EMI）线圈中产生高电流瞬变，从而产生一个突然的磁脉冲，该脉冲耦合到目标设备并在设备中产生故障，可能导致：绕过安全机制（如安全 JTAG 或安全启动）、泄露设备信息、修改程序流程、干扰安全硬件模块（例如随机数生成器）。
常见影响 (1)
Confidentiality, Integrity, Access Control, AvailabilityModify Memory, Read Memory, Gain Privileges or Assume Identity, Bypass Protection Mechanism, Execute Unauthorized Code or Commands
缓解措施 (1)
Architecture and Design, Implementation1. Redundancy - By replicating critical operations and comparing the two outputs can help indicate whether a fault has been injected. 2. Error detection and correction codes - Gay, Mael, et al. proposed a new scheme that not only detects faults injected by a malicious adversary but also automatically corrects single nibble/byte errors introduced by low-multiplicity faults. 3. Fail by default codin…
代码示例 (1)
In many devices, security related information is stored in fuses. These fuses are loaded into shadow registers at boot time. Disturbing this transfer phase with EM-FI can lead to the shadow registers storing erroneous values potentially resulting in reduced security.
CVE ID标题CVSS风险等级Published
CVE-2023-5138 Silicon Labs Gecko SDK 安全漏洞 — GSDK 6.8 Medium2024-01-03
CVE-2022-42784 Siemens LOGO! 安全漏洞 — LOGO! 12/24RCE 7.6 High2023-12-12
CVE-2022-26131 Trailer Power Line Communications 安全漏洞 — PLC4TRUCKS 9.3 Critical2022-03-07

CWE-1319 是常见的弱点类别，本平台收录该类弱点关联的 3 条 CVE 漏洞。