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CVE-2017-18320— 多款Qualcomm产品输入验证漏洞

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一、 漏洞 CVE-2017-18320 基础信息

漏洞信息

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Vulnerability Title
N/A
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
Vulnerability Description
QSEE unload attempt on a 3rd party TEE without previously loading results in a data abort in snapdragon automobile and snapdragon mobile in versions MSM8996AU, SD 410/12, SD 425, SD 427, SD 430, SD 435, SD 439 / SD 429, SD 450, SD 615/16/SD 415, SD 625, SD 632, SD 636, SD 650/52, SD 712 / SD 710 / SD 670, SD 810, SD 820, SD 820A, SD 835, SDA660, SDM439, SDM630, SDM660, SDX24, Snapdragon_High_Med_2016, SXR1130.
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
CVSS Information
N/A
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
Vulnerability Type
N/A
来源: 美国国家漏洞数据库 NVD
Vulnerability Title
多款Qualcomm产品输入验证漏洞
来源: 中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
Vulnerability Description
Qualcomm MSM8996AU等都是美国高通(Qualcomm)公司的产品。Qualcomm MSM8996AU是一款中央处理器(CPU)。SDX24是一款调制解调器。 多款Qualcomm产品中的TZ存在输入验证漏洞。攻击者可利用该漏洞执行未授权的操作。以下产品(用于汽车和移动设备)受到影响:Qualcomm MSM8996AU;SD 410/12;SD 425;SD 427;SD 430;SD 435;SD 439;SD 429;SD 450;SD 615/16;SD 415;SD 625;SD
来源: 中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
CVSS Information
N/A
来源: 中国国家信息安全漏洞库 CNNVD
Vulnerability Type
N/A
来源: 中国国家信息安全漏洞库 CNNVD

受影响产品

厂商产品影响版本CPE订阅
Qualcomm, Inc.Snapdragon Automobile, Snapdragon Mobile MSM8996AU, SD 410/12, SD 425, SD 427, SD 430, SD 435, SD 439 / SD 429, SD 450, SD 615/16/SD 415, SD 625, SD 632, SD 636, SD 650/52, SD 712 / SD 710 / SD 670, SD 810, SD 820, SD 820A, SD 835, SDA660, SDM439, SDM630, SDM660, SDX24, Snapdragon_High_Med_2016, -

二、漏洞 CVE-2017-18320 的公开POC

#POC 描述源链接神龙链接
AI 生成 POC高级

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三、漏洞 CVE-2017-18320 的情报信息

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CVE-2017-18320 厂商安全公告 (1)

CVE-2017-18320 其他参考 (1)

同批安全公告 · Qualcomm, Inc. · 2019-01-03 · 共 13 条

CVE-2017-11004多款Qualcomm产品信息泄露漏洞
CVE-2017-18141多款Qualcomm产品TrustZone 访问控制错误漏洞
CVE-2017-18319多款Qualcomm产品Modem 安全漏洞
CVE-2017-18321多款Qualcomm产品信息泄露漏洞
CVE-2017-18322多款Qualcomm产品信息泄露漏洞
CVE-2017-18323多款Qualcomm产品Modem 安全漏洞
CVE-2017-18324多款Qualcomm产品信息泄露漏洞
CVE-2017-18326多款Qualcomm产品Modem 安全漏洞
CVE-2017-18327多款Qualcomm产品HLOS 加密问题漏洞
CVE-2017-18328多款Qualcomm产品安全漏洞
CVE-2017-18329多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2017-18330多款Qualcomm产品Crypto 缓冲区错误漏洞

IV. Related Vulnerabilities

V. Comments for CVE-2017-18320

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