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CVE-2018-5869— 多款Qualcomm产品TrustZone 输入验证错误漏洞

AI Predicted 7.8 Difficulty: Moderate EPSS 0.22% · P13
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I. CVE-2018-5869の基本情報

脆弱性情報

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脆弱性タイトル
N/A
ソース: CVE Program / CVE List V5
脆弱性説明
Improper input validation in the QTEE keymaster app can lead to invalid memory access in snapdragon mobile and snapdragon wear in versions MDM9206, MDM9607, MSM8909W, SD 210/SD 212/SD 205, SD 410/12, SD 615/16/SD 415, SD 800, SD 810
ソース: CVE Program / CVE List V5
CVSS情報
N/A
ソース: CVE Program / CVE List V5
脆弱性タイプ
N/A
ソース: CVE Program / CVE List V5
脆弱性タイトル
多款Qualcomm产品TrustZone 输入验证错误漏洞
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性説明
Qualcomm MDM9206等都是美国高通(Qualcomm)公司应用于不同平台的中央处理器(CPU)产品。TrustZone是其中的一个系统安全组件。 多款Qualcomm产品中的TrustZone存在输入验证漏洞。攻击者可利用该漏洞造成无效内存访问。以下产品(用于移动和可穿戴设备)受到影响:Qualcomm MDM9206;MDM9607;MSM8909W;SD 210;SD 212;SD 205;SD 410/12;SD 615/16;SD 415;SD 800;SD 810。
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
CVSS情報
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性タイプ
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)

影響を受ける製品

ベンダープロダクト影響を受けるバージョンCPE購読
Qualcomm, Inc.Snapdragon Mobile,Snapdragon Wear MDM9206, MDM9607, MSM8909W, SD 210/SD 212/SD 205, SD 410/12, SD 615/16/SD 415, SD 800, SD 810 -

II. CVE-2018-5869の公開POC

#POC説明ソースリンクShenlongリンク
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III. CVE-2018-5869のインテリジェンス情報

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CVE-2018-5869 厂商安全公告 (1)

CVE-2018-5869 其他参考 (1)

Same Patch Batch · Qualcomm, Inc. · 2019-01-18 · 18 CVEs total

CVE-2018-11998多款Qualcomm产品竞争条件漏洞
CVE-2018-5915多款Qualcomm产品代码问题漏洞
CVE-2018-5881多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-5880多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-5879多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-5868多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-5867多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-3595多款Qualcomm产品代码问题漏洞
CVE-2018-11999多款Qualcomm产品TrustZone 输入验证错误漏洞
CVE-2017-18160多款Qualcomm产品加密问题漏洞
CVE-2018-11993Qualcomm MDM9206和MDM9607产品缓冲区错误漏洞
CVE-2018-11288多款Qualcomm snapdragon产品安全漏洞
CVE-2018-11284多款Qualcomm snapdragon产品授权问题漏洞
CVE-2018-11279多款Qualcomm产品缓冲区错误漏洞
CVE-2017-8276多款Qualcomm产品授权问题漏洞
CVE-2017-18332多款Qualcomm产品信息泄露漏洞
CVE-2017-18331多款Qualcomm产品访问控制错误漏洞

IV. 関連脆弱性

V. CVE-2018-5869へのコメント

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