Samsung Semiconductor 厂商相关 35 条 CVE 漏洞，含 AI 中文分析、POC、CVSS 评分与受影响产品。
本页面聚合三星半导体（Samsung Semiconductor）旗下芯片、存储及移动处理器等产品的安全漏洞信息。收录内容涵盖该厂商官方披露的固件缺陷、硬件设计弱点及系统级漏洞，时间范围横跨近十年发布的安全公告。读者可在此追踪三星半导体特定产品的历史漏洞记录，了解其半导体组件常见的安全弱点类型，或检索针对某款芯片的过往安全通告，为风险评估与补丁管理提供数据支持。
| CVE ID | 标题 | CVSS | 风险等级 | Published |
|---|---|---|---|---|
| CVE-2026-48173 | NAS 消息处理器长度验证缺失导致内存破坏 — Exynos 850 CWE-120 | - | - | 2026-11-05 |
| CVE-2026-69006 | GNSS 固件加载器长度验证不足致内核内存损坏 — Exynos 850 CWE-754 | - | - | 2026-11-05 |
| CVE-2025-66367 | NAS DLTransport 消息处理不当致基带崩溃 — Exynos 850 CWE-125 | - | - | 2026-11-05 |
| CVE-2026-33971 | LTE RRC 组件未认证消息处理导致拒绝服务 — Exynos 850 CWE-400 | - | - | 2026-11-05 |
| CVE-2026-33969 | NAS认证请求解码无限循环导致拒绝服务漏洞 — Exynos 850 CWE-835 | - | - | 2026-11-05 |
| CVE-2025-66364 | 基带软件：控制面消息持续发送导致崩溃 — Exynos 850 CWE-754 | - | - | 2026-11-05 |
本页汇总了 Samsung Semiconductor 厂商截至目前公开的全部 35 条 CVE 漏洞。每条漏洞均包含 CVSS 评分、CWE 弱点分类、受影响产品与参考链接，并附带 AI 生成的中文分析以便快速判断风险。