CVE-2017-18274— 多款Qualcomm产品输入验证错误漏洞
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I. CVE-2017-18274の基本情報
脆弱性情報
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脆弱性タイトル
N/A
ソース: CVE Program / CVE List V5
脆弱性説明
While iterating through the models contained in a fixed-size array in the actData structure, which also stores an incorrect number of models that is greater than the size of the array, a buffer overflow occurs in Snapdragon Automobile, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wear in MDM9206, MDM9607, MDM9650, SD 210/SD 212/SD 205, SD 425, SD 430, SD 450, SD 617, SD 625, SD 650/52, SD 820, SD 820A, SD 835
ソース: CVE Program / CVE List V5
CVSS情報
N/A
ソース: CVE Program / CVE List V5
脆弱性タイプ
N/A
ソース: CVE Program / CVE List V5
脆弱性タイトル
多款Qualcomm产品输入验证错误漏洞
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性説明
Qualcomm MDM9206等都是美国高通（Qualcomm）公司的一款中央处理器（CPU）产品。 多款Qualcomm产品中的QSSP存在输入验证错误漏洞。该漏洞源于网络系统或产品未对输入的数据进行正确的验证。以下产品及版本（用于汽车、移动和可穿戴设备）受到影响：Qualcomm MDM9206；MDM9607；MDM9650；SD 210；SD 212；SD 205；SD 425；SD 430；SD 450；SD 617；SD 625；SD 650/52；SD 820；SD 820A；SD 835
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
CVSS情報
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
脆弱性タイプ
N/A
ソース: CNNVD (China National Vulnerability Database)
影響を受ける製品
| ベンダー | プロダクト | 影響を受けるバージョン | CPE | 購読 |
|---|---|---|---|---|
| Qualcomm Technologies, Inc. | Snapdragon Automobile, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wear | MDM9206 | - |
II. CVE-2017-18274の公開POC
| # | POC説明 | ソースリンク | Shenlongリンク |
|---|
AI生成POCプレミアム
公開POCは見つかりませんでした。
ログインしてAI POCを生成III. CVE-2017-18274のインテリジェンス情報
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CVE-2017-18274 其他参考 (1)
- https://www.qualcomm.com/company/product-security/bulletinsx_refsource_MISC
Same Patch Batch · Qualcomm Technologies, Inc. · 2019-05-06 · 9 CVEs total
| CVE-2017-15841 | 多款Qualcomm产品授权问题漏洞 | |
| CVE-2017-18156 | 多款Qualcomm产品资源管理错误漏洞 | |
| CVE-2017-18157 | 多款Qualcomm产品资源管理错误漏洞 | |
| CVE-2017-18173 | 多款Qualcomm产品输入验证错误漏洞 | |
| CVE-2017-18275 | 多款Qualcomm产品访问控制错误漏洞 | |
| CVE-2017-18276 | 多款Qualcomm产品访问控制错误漏洞 | |
| CVE-2017-18278 | 多款Qualcomm产品数字错误漏洞 | |
| CVE-2017-18279 | 多款Qualcomm产品输入验证错误漏洞 |
IV. 関連脆弱性
V. CVE-2017-18274へのコメント
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